SPEA si impegna, con creatività e innovazione nel progettare e realizzare i sistemi più adatti - più avanzati, più affidabili, più convenienti - al collaudo di microchip e schede elettroniche.
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SPEA launches the PMTC 100 integrated Power Module Test Cell
Rotation/acceleration stimulus for accelerometer and gyroscope test
Complete and combined test of multi-function MEMS devices on single equipment
All SPEA MEMS test cells can now be equipped with the new reel sorting unit option
SPEA announces the launch of the first test cell for the tri-temp test of high-production MEMS devices
28-30 Settembre 2010 - Rosemont, Illinois
5-7 Ottobre 2010 - San Paolo, Brasile
26-27 Ottobre 2010 - Orlando, Florida
26-30 Ottobre 2010 - Madrid, Spagna
9-12 Novembre 2010