1976

• Alla sua fondazione, SPEA produce sistemi per il test delle schede elettroniche, a Volpiano

1977

• SPEA realizza il primo tester polifunzionale per il collaudo di schede elettroniche

1981

• Viene aperta nei pressi di Francoforte la SPEA tedesca, dove oggi circa 40 persone sono impegnate in attività quali ricerca e sviluppo, supporto tecnico e specialistico ai clienti del mercato tedesco e dell’Est Europeo, ecc.

1982

• SPEA produce il primo Digital ICT Automatic Board Tester

1988

• Nel 1988 la SPEA fa il primo tentativo di produrre apparecchiature per il test di microchip, concepite per la tecnologia per semiconduttori dell’Unione Sovietica. Il crollo dell’Unione Sovietica renderà questi sistemi inservibili

1992

• SPEA apre nuove sedi operative in Israele, Francia e Gran Bretagna
• SPEA Asia Operation

1995

• SPEA riesce a entrare nel mercato del collaudo dei microchip, rompendo un monopolio mondiale che apparteneva a Stati Uniti e Giappone. Una delle prime applicazioni in questo settore ha riguardato il test di microchip utilizzati negli orologi Swatch. Il primo sistema SPEA per il test di dispositivi Mixed Signal è il C340MX (128 canali, 20 MHz)
• SPEA è la quarta impresa al mondo nel campo di schede elettroniche

1996

• Nasce il primo sistema SPEA per testare le schede elettroniche ad alta densità con la tecnologia delle sonde mobili. Presto i sistemi SPEA a sonde mobili si distinguono all’interno del mercato, grazie alla loro capacità di test (5 volte maggiore rispetto alla concorrenza), alla loro velocità e all’estrema precisione meccanica

1998

• C340MX Tester per Mixed Signal Semiconductor 128 ch 40 MHz

1999

• Apertura di SPEA America. SPEA è presente negli Stati Uniti con tre sedi, in Texas, California e Illinois

2000

• C322MX Tester per Mixed Signal Semiconductor 256 ch 40 MHz

2001

• C372MX Tester per Mixed Signal Semiconductor 512 ch 40 MHz

2002

• C3320TFT – Tester per TFT driver devices
• H1000 Series - Reel Handler
• 4040 Hi-Line - Tester a sonde mobili

2003

• H3000 Series - Pick & Place Handler
• 4040 Hi-Line Series 5 - Tester a sonde mobili
• Technologies Replaceable Integrated Modules – TRIM

2004

• H3000 BLU – Burn-In Loader/Unloader
• Power Audio TRIM
• 3030 Series – Board Testers

2005

• Nasce SPEA Asia Pacific a Singapore

2006

• Nasce SPEA China a Shenzhen
• C400MX Series – Compact Tester for Multi-Site Mixed Signal and Power Devices

2007

• 4040 Multimode - Tester a sonde mobili
• MTC series – Celle di test per dispositivi MEMS
• 3030 Twin – Cella di test in-circuit ad alta produttività

2008

• C600MX – Tester per System-On-A-Chip ad alto pin count
• H3560 – Pick & Place Handler ad alta produttività
• STC series – Celle di test per Smart Card

2009

• MEMS Magnetic Sensor Test Cell
• Tri-Temp Option for MEMS Test Cells
• MEMS Pressure Sensor Test Cell
• Tire Pressure Monitoring System MEMS Test Cell